1. Rola i znaczenie SPC we współczesnych systemach zarządzania jakością.
2. Zmienność, przyczyny przypadkowe i szczególne zmienności.
3. Pojęcie procesu stabilnego (pod kontrolą) i rozregulowanego (poza kontrolą). Statystyczny opis zmienności - obliczanie i interpretacja średniej, mediany, rozstępu, odchylenia standardowego (przykłady).
4. Zdolność procesu. Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności procesu/maszyny Cp, Cpk, Cp, Cpk.
5. Karty kontrolne jako narzędzie monitorowania procesu; ogólne zasady konstrukcji
i funkcjonowania.
6. Charakterystyka kart kontrolnych Shewarta dla cech mierzalnych (wartości średniej i rozstępu, wartości średniej i odchylenia standardowego, mediany i rozstępu, pojedynczych obserwacji
i ruchomego rozstępu) i według oceny alternatywnej (liczby jednostek niezgodnych (np), frakcji jednostek niezgodnych (p) , liczby niezgodności (c) , liczby niezgodności na jednostkę (u) ).
7. Obliczanie współczynników zdolności procesu Cp, Cpk na podstawie informacji zawartych
w kartach kontrolnych dla cech mierzalnych.
8. Efektywny dobór rodzaju. Prowadzenie kart kontrolnych: dobór liczności próbki, sposób
i częstość pobierania próbek, reguły czytania karty kontrolnej (identyfikacja sygnałów
i nieprzypadkowych układów punktów - trendy, runy, periodyczność, klasterowanie itp.).
9. Metody zwiększanie czułości karty. Wpływ jakości systemu pomiarowego na czułość karty. Uwagi na temat wdrażania metod SPC.
