1. Rola i znaczenie SPC we współczesnych systemach zarządzania jakością.
2. Zmienność, przyczyny przypadkowe i szczególne zmienności. Pojęcie procesu stabilnego (pod kontrolą) i rozregulowanego (poza kontrolą). Statystyczny opis zmienności - obliczanie i interpretacja średniej, mediany, rozstępu, odchylenia standardowego (przykłady). Graficzne metody prezentacji danych: konstrukcja i interpretacja histogramu (przykłady, ćwiczenia).
3. Zdolność procesu. Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności procesu/maszyny Cp, Cpk, Cm, Cmk, Cp, Cpk. Wykorzystanie rozkładu normalnego w analizie zdolności procesu. Zdolność procesu a wadliwość. Jakość doskonała w podejściu Six Sigma (przykłady, ćwiczenia).
4. Karty kontrolne jako narzędzie monitorowania procesu; ogólne zasady funkcjonowania. Konstrukcja kart kontrolnych Shewarta dla cech mierzalnych (wartości średniej i rozstępu, wartości średniej i odchylenia standardowego, mediany i rozstępu, pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu) i według oceny alternatywnej (liczby jednostek niezgodnych (np), frakcji jednostek niezgodnych (p), liczby niezgodności (c), liczby niezgodności na jednostkę (u)). Obliczanie współczynników zdolności procesu Cp, Cpk na podstawie informacji zawartych w kartach kontrolnych dla cech mierzalnych. Przeliczanie kart dla cech mierzalnych przy zmianie liczności próbki. Zalety i wady kart kontrolnych Shewharta dla cech mierzalnych i według oceny alternatywnej. Zasady optymalnego doboru karty i jej wykorzystania: metody próbkowania, kryteria identyfikacji rozregulowania procesu (sygnały, trendy, serie, testy strefowe itp.). Wybrane sytuacje szczególne: karta kontrolna w przypadku procesów z trendem spowodowanym np. zużywaniem się narzędzia, karta kontrolna ważonej liczby niezgodności na jednostkę itp. (przykłady, ćwiczenia).
5. Wzajemne relacje pomiędzy SPC a nadzorowaniem aparatury kontrolno-pomiarowej (MSA) i analizą skutków i przyczyn wad (FMEA). Krótki przegląd metod SPC w zakresie doskonalenia procesu.
6. Zasady wdrażania metod SPC.
