• Wprowadzenie - Znaczenie i zakres stosowania metod SPC w branży motoryzacyjnej (ISO/TS 16949 jako kompilacja wymagań AVSQ (Włochy), EAQF ( Francja), QS-9000 (USA), VDA (Niemcy). Charakterystyka podstawowych dokumentów nt. SPC w motoryzacji: Podręcznik Referencyjny SPC wg QS-9000 (wyd.2,2005), VDA
• Zmienność, Podstawowa statystyczna analiza danych – Przyczyny przypadkowe i szczególne zmienności, pojęcie procesu stabilnego (pod kontrolą) i rozregulowanego (poza kontrolą). Typy zachowania się procesu. Statystyczny opis zmienności - wyznaczanie i interpretacja parametrów opisowych (średnia, mediana, rozstęp, odchylenie standardowe, skośność, kurtoza itd.), konstrukcja histogramu (dobór liczby przedziałów), rozkład empiryczny a rozkład teoretyczny, rozkład normalny (obliczanie frakcji realizacji poza granicami, graficzny test normalności).
• Zdolność procesu – Strategie oceny zdolności procesu w motoryzacji : obliczanie i interpretacja współczynników zdolności procesu według różnych strategii analizy :Cp, Cpk (capability index), Pp, Ppk (performance index), Pp, Ppk (preliminary process capability), Cp, Cpk (on-going process capability) , Tp, Tpk (unstable process capability) itp. Szczegółowa analiza porównawcza oceny zdolności według różnych strategii analizy. Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności maszyny Cm, Cmk (wg nowych oznaczeń Pm, Pmk). Zdolność procesu a frakcja realizacji poza granicami specyfikacji. Ocena zdolności procesu/maszyny w przypadku rozkładów innych od rozkładu normalnego. Zdolność procesu w przypadku oceny alternatywnej. Pojecie funkcji straty.
• Karty kontrolne jako narzędzie monitorowania i doskonalenia procesu - ogólne zasady funkcjonowania (trzysigmowość karty, metody konstrukcji karty (karty kontrolne Shewharta, dokładne karty kontrolne), błędy wnioskowania, dostosowanie karty do procesu). Konstrukcja kart kontrolnych Shewarta dla cech mierzalnych (wartości średniej i rozstępu, wartości średniej i odchylenia standardowego, mediany i rozstępu, pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu) i według oceny alternatywnej (liczby jednostek niezgodnych (np), frakcji jednostek niezgodnych (p), liczby niezgodności (c), liczby niezgodności na jednostkę (u)). Obliczanie współczynników zdolności procesu Cp, Cpk na podstawie informacji zawartych w kartach kontrolnych dla cech mierzalnych. Przeliczanie kart dla cech mierzalnych przy zmianie liczności próbki. Zalety i wady kart kontrolnych dla cech mierzalnych i według oceny alternatywnej. Zasady optymalnego doboru karty i jej wykorzystania: metody próbkowania (w tym próbkowanie w procesach wielostrumieniowych), kryteria identyfikacji rozregulowania procesu (sygnały, trendy, serie, testy strefowe itp.), problem nadkontroli (przesterowania). Wybrane sytuacje szczególne: karta kontrolna w przypadku procesów z trendem spowodowanym np. zużywaniem się narzędzia, karta kontrolna ważonej liczby niezgodności na jednostkę itp. Ogólne uwagi o innych kartach kontrolnych (karta wykładniczo ważonej ruchomej średniej EWMA, tzw. karty ekonomiczne (z poszerzonymi liniami), karty kontrolne dla krótkich serii, itp.).
• Podstawowe informacje z zakresu analizy systemów pomiarowych (wzajemne relacje pomiędzy SPC i MSA.
• Oprogramowanie metod SPC – charakterystyka aplikacji wykorzystywanych w motoryzacji (qs-stat, Minitab, Quantum, QDA itp.)