Statystyczne sterowanie procesem (SPC) z Analizą Systemów Pomiarowych (MSA)

Promocja:

LAST MINUTE: 20% zniżki "Statystyczne sterowanie procesem (SPC) z Analizą Systemów Pomiarowych(MSA) 13 - 15 lutego 2012

Symbol szkolenia: SPC-RR
Cena: 1500 PLN/os
Lokalizacja: Kraków
Czas trwania: 3 dni po 6 godzin

Termin:

2011-12-07 - 2011-12-09
2012-02-13 - 2012-02-15
2012-04-18 - 2012-04-20
2012-06-27 - 2012-06-29

Standardowe promocje:

20% rabatu dla drugiej i każdej następnej zgłoszonej osoby na to szkolenie.

Zastosowanie

Celem metod SPC jest przede wszystkim zapobieganie niezgodnościom poprzez odpowiednio wczesne wykrywanie destabilizacji procesu i przywracanie mu stanu stabilnego zanim powstanie niezgodność. Metodologia SPC nadaje się zarówno do monitorowania procesów produkcyjnych, jak
i do nadzorowania procesów pomiarowych (np. dla kontroli jakości). Z sukcesem stosowana jest także dla procesów nieprodukcyjnych (np. usługowych). Podstawowym narzędziem SPC są karty kontrolne służące do graficznego śledzenia stabilności procesu na podstawie pobieranych okresowo mało licznych próbek. W ramach SPC ocenia się także zdolność procesu do spełniania stawianych mu wymagań. Do popularniejszych wskaźników zdolności procesu produkcyjnego należą: Cp, Cpk, Pp, Ppk; dla procesu (systemu) pomiarowego ich odpowiednikami są m.in. Cg, Cgk

Przedmiot szkolenia

Podstawy SPC (Statystycznego Sterowania Procesem) w zastosowaniu do monitorowania procesów produkcyjnych i pomiarowych. Źródła zmienności procesu produkcyjnego i procesu pomiarowego. Rola jakości systemu pomiarowego w kontroli jakości i w sterowaniu procesem produkcyjnym. Ocena zdolności i stabilności procesu produkcji i procesu pomiaru. Karty kontrolne Shawharta. Wskaźniki zdolności procesu produkcji - Cp, Cpk, Pp, Ppk. Wskaźniki zdolności systemu pomiarowego - Cg, Cgk. Liczne przykłady i ćwiczenia.

Program i metodyka

Przyczyny i skutki zmienności procesu, statystyczny opis zmienności, pojęcie stabilności procesu.
Rozkład normalny (Gaussa), reguła trzech odchyleń standardowych, graficzny test normalności.
Ocena i interpretacja współczynników zdolności procesu: Cp, Cpk, Pp, Ppk.
Zdolność a frakcja realizacji poza granicami specyfikacji.
Ocena zdolności procesu w przypadku rozkładów innych od normalnego.
Karty kontrolne Shewharta dla właściwości mierzalnych oraz według oceny alternatywnej - konstrukcja, interpretacja, obliczanie Cp, Cpk na podstawie kart dla właściwości mierzalnych.
Zdolność procesu w przypadku oceny alternatywnej.
SPC w Six Sigma.

Ćwiczenia:

Graficzny test normalności, ocena spodziewanej frakcji realizacji poza granicami specyfikacji na podstawie rozkładu normalnego.
Wyznaczanie współczynników zdolności procesu Cp, Cpk, Pp, Ppk.
Konstrukcja kart kontrolnych Shewharta dla właściwości mierzalnych.
Konstrukcja kart kontrolnych Shewharta według oceny alternatywnej.
Wyznaczanie wskaźników Cg, Cgk dla prostego zadania pomiarowego.

Metodyka:

wykład

ćwiczenia

warsztaty

przykłady

gry i symulacje

Adresaci

Opis adresatów:

Osoby odpowiedzialne za wdrożenie, utrzymanie i doskonalenie procedur SPC w przedsiębiorstwie, średni szczebel nadzoru procesu produkcji - kierownicy, inżynierowie procesu, technolodzy, liderzy zespołów, brygadziści, mistrzowie, osoby odpowiedzialne za jakość, pracownicy działów zapewnienia jakości, inżynierowie jakości, analitycy, osoby odpowiedzialne za nadzorowanie systemów / procesów pomiarowych, pracownicy izb pomiarów, szefowie kontroli jakości, osoby realizujące projekty doskonalące w procesie produkcyjnym

Korzyści

Opis korzyści:

Poznanie metod pozwalających na prewencyjne zapewnienie jakości poprzez niedopuszczanie do niezgodności w miejsce ich wykrywania,
uzyskanie umiejętności projektowania i stosowania kart kontrolnych Shewharta,
poznanie sposobów oceny zdolności procesów produkcyjnych i pomiarowych,
uzyskanie umiejętności przeprowadzenia podstawowych analiz zdolności systemów pomiarowych, pozwalających na identyfikację zagrożeń w procesach pomiarowych (kontroli jakości, nadzorowaniu procesu),
możliwość skonsultowania z trenerem problemów napotkanych w praktyce.

Informacje dodatkowe

Szkolenie rozpoczyna się o godzinie 9.30

Cena szkolenia obejmuje: szkolenie, materiały, certyfikat uczestnictwa w szkoleniu, obiady, słodki poczęstunek, możliwość bezpłatnych, krótkich konsultacji do 3 miesięcy po szkoleniu, pomoc w rezerwacji hotelu.

Szkolenia otwarte

Rozwiązania dedykowane

Popularne

Statystyczne sterowanie procesem (SPC) z Analizą Systemów Pomiarowych (MSA)

Strefa klienta

Logowanie

Promocje

Aktualności